Arbeitsgebiete
- Topografiebestimmung technischer Oberflächen (Geometrie und Rauheit)
- Topografiebestimmung von Mikrostrukturen
- Bestimmung optischer Eigenschaften von Bauteilen und Materialien
Leistungsangebote
- Optische Charakterisierung von Mikrostrukturen
- Charakterisierung optischer Bauteile und Materialien hinsichtlich refraktiver, spektraler und polarisationsoptischer Eigenschaften
- Optische Strukturuntersuchung mittels OCT
- Forschungskooperationen
Ausstattung
- Konfokales Mikroskop
- Chromatischer Sensor
- Optische Kohärenztomografie
- Weißlicht-Reflektometrie (Schichtdickenmessung, Transmission, Reflexion)
- Multiwellenlängen-Refraktometer (Brechungsindex im VIS und IR)
- Spektrogonioradiometer (Radiometrie und Photometrie von LED und anderen Srahlquellen)
- Hochauflösender optischer Spektrumanalysator (spektrale Analyse im Bereich 350-1700 nm)
- Lasermesstechnik (Leistung, Energie, Wellenlänge, Polarisation)
- Messplatz zur Charakterisierung von Linsen (BFL, EFL, MTF, Linsenfehler)
- Shack-Hartmann-Sensor (Wellenfrontanalyse)
In Kooperation mit anderen Arbeitsgruppen der Abteilung Materials stehen zudem zur Verfügung
- Raster-Elektronen-Mikroskop
- Rasterkraft-Mikroskop
- Computertomograf
- Röntgenfluoreszenzanalyse
ZeWiS-Zentrum für wissenschaftliche Services
Glanzstoffstraße 1, Geb. Wa 07
63784 Obernburg